膜厚儀內(nèi)置高精密雙探頭，利用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過點(diǎn)陣液晶快速顯示結(jié)果。同時，測量數(shù)據(jù)可分組保存，并實(shí)時顯示統(tǒng)計值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報警值、零校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)。全新的多點(diǎn)校準(zhǔn)和零校準(zhǔn)，讓您非常方便的隨時進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單，確保您非常容易的使用它。
膜厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：
32位嵌入式系統(tǒng)控制技術(shù)。
扁平化設(shè)計，直觀，操作方便。
觸摸屏操作
所有操作均可在一個平面內(nèi)完成，無須進(jìn)入退出操作。
TFT真彩色液晶顯示。
接觸式厚度測量。
測試過程自動化完成。
手動、自動雙重測量模式。
可采用標(biāo)準(zhǔn)厚度計量工具標(biāo)定、檢驗(yàn)。
符合GB，ASTM等多種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)接觸面積、測量壓力。
平均值、標(biāo)準(zhǔn)差等數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能。
量程可調(diào)。
配置微型打印機(jī)，可自動打印試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
配置標(biāo)準(zhǔn)RS232通信口，利用專業(yè)計算機(jī)軟件可更大限度地挖掘試驗(yàn)數(shù)據(jù)價值。
可支持以太網(wǎng)通信，方便數(shù)據(jù)聯(lián)網(wǎng)。
可支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理。
膜厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。
